光時域反射儀SLD-WL1007

產品描述

利用光在光纖中傳播時產生的后向散射光來獲取衰減的信息，可用于測量光纖衰減、接頭損耗、光纖故障點定位以及了解光纖沿長度的損耗分布情況等

規格參數

1310/1550nm 35/34dB OTDR，含紅光源測試功能，光源和光功率，智能光鏈路拓撲分析儀、0.6m事件盲區，3cm的采樣分辨率和動態范圍完美結合，事件盲區 ≤0.6m.衰減盲區 ≤3.5m，衰耗分辨率 0.001dB，線性度 ±0.03 dB/dB，測量時間實時5s-180s;可選配400倍光纖端面顯微鏡，支持FC,SC,LC,ST等各種光纖接口。

符合IEC 68-2-6；IEC 61326-1；EN61010-1；EN60825-1標準